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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
德國EPK(Elektrophysik)公司涂層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；所有型號(hào)均可配所有探頭；可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；涂層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
詳情介紹：
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涂層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100 |
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德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)： MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能； 所有型號(hào)均可配所有探頭； 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)； 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。 |
MiniTest涂層測(cè)厚儀功能
| 型號(hào) |
1100
|
2100
|
3100
|
4100
|
| MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 | ||||
| 應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) |
1
|
1
|
10
|
99
|
| 每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，并可設(shè)寬容度極限值) |
-
|
1
|
10
|
99
|
| 可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) |
-
|
1
|
500
|
500
|
| 數(shù)據(jù)總量 |
1
|
10000
|
10000
|
10000
|
| MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 | ||||
| 讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
-
|
-
|
-
|
√
|
| 分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 其他功能 | ||||
| 設(shè)置極限值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過模擬柱識(shí)別最大最小值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
MiniTest涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇*適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
|
探頭
|
量程
|
低端
分辨率 |
誤差
|
最小曲率
半徑(凸/凹) |
最小測(cè)量
區(qū)域直徑 |
最小基
體厚度 |
探頭尺寸
|
|
|
磁
感 應(yīng) 法 |
F05
|
0-500μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.7μm)
|
1/5mm
|
3mm
|
0.2mm
|
φ15x62mm
|
|
F1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
|
F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x8x170mm
|
|
|
F3
|
0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
|
F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%±10μm)
|
5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
|
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
|
|
|
F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%±50μm)
|
50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
|
|
兩
用 |
FN1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm
|
|
FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
30mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ21x89mm
|
|
|
FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm
|
|
|
電
渦 流 法 |
N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
|
N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
|
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
|
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x13x170mm
|
|
|
N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%±25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
|
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±50μm)
|
25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
|
|
N100
|
0-100mm
|
100μm
|
±(1%±0.3mm)
|
100mm/平面
|
200mm
|
50μm
|
φ126x155mm
|
|
|
CN02
|
10-200μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
7mm
|
無限制
|
φ17x80mm
|
|
| 注： |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
MiniTest涂層測(cè)厚儀探頭圖示
|
FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
|
FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測(cè)頭， 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度 |
|
F05 0～500μm,φ3mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等 量程低端分辨宰很高(0.1μm) |
|
F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
|
F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 可用于較厚的覆層 |
|
F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
|
F10 0～10mm,φ20mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 |
|
F20 0～20mm,φ40mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 |
|
F50 0～50mm,φ300mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 |
|
N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
|
N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 |
|
N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
|
N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
|
N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
|
N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
|
N100 0～100mm,200mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
|
CN02 10～200μm,φ7mm 用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |
